[1]
П. Яковчук, В. Кравченко, і С. Шукаєв, «Аналіз вхідних параметрів штучної нейронної мережі у прогнозуванні довговічності за багатоосьового навантажування», ПТТтаІО, вип. XXIV, с. 11–15, Груд 2024.